2017-08-29
CIOE中国国际光电博览会将于9月6-9日在深圳会展中心举办，588888纽约国际线路检测中心仪器携光学3D表面轮廓仪、轮廓测量仪、激光干涉仪参展， 诚邀您莅临我们的展台。
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深圳市588888纽约国际线路检测中心仪器股份有限公司 展位：8 号馆 精密光学展区 展台号 8K36 |
展品先睹为快
SuperView W1 光学3D表面轮廓仪采用光学非接触式测量方法，以白光干涉技术为原理，对硅晶片、微透镜阵列、磨损平凸镜面及棱镜平面等进行表面形貌特征测量和分析。
SJ5760轮廓测量仪通过测针在被检物件表面滑移，可对各种模具工件进行长度、高度、间距、水平距离、垂直距离、角度、圆弧半径等几何参数测量。
SJ6000激光干涉以光波为载体，结合不同的光学镜组，可对各类机床设备进行线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。
展品详细信息，请届时莅临我司展台咨询，我们期待与您进行技术交流，9月6-9日，深圳会展中心8号馆8K36我们不见不散！
获取此次展会详情，您可识别下方二维码，也可点击左下角“阅读原文”进入。
